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序号 | 产品名称 | 数量 | 简要技术规格 | 备注 |
1 | 阵列自动光学检查机 | 2台 | (1)本设备主要通过光学的办法,用于从LS到ITO2的工艺过程中,以及TP IN CELL的工艺过程中检测像素缺陷、异物、Mask缺陷和线缺陷等。检测 (略) 络反馈给生产设备,并用于生产监控。 (2)基板尺寸: * mm x * mm。(3)屏的尺寸:适用于任意尺寸屏幕的检测。 | *** |
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